日本h-repic缺陷檢查PWM調(diào)頻LED點(diǎn)光源
日本h-repic缺陷檢查PWM調(diào)頻LED點(diǎn)光源

主要特點(diǎn)

1. 真正的 PWM 調(diào)光
   采用恒流 PWM 驅(qū)動(dòng)，頻率 1 kHz–20 kHz 占空比 0–100 %，無顏色漂移，無閃爍。
2. μS 級(jí)響應(yīng)
   上升 / 下降時(shí)間 ≤ 5 μS，可配合 10 kHz 以上高速相機(jī)做“閃光拍照"，顯著延長 LED 壽命。
3. 兩種控制接口
• 外部 PWM 信號(hào)（TTL / 24 V 兼容）
• 模擬電壓 0–5 V（連續(xù)調(diào)光）
4. 高亮度、低功耗
   采用高亮度 LED 芯片 + 非球面透鏡，最大照度 500 000 lx（白光，距離 50 mm，透鏡 φ16 mm）。
5. 可更換透鏡
   標(biāo)配 3 種透鏡，一鍵切換配光角度：
• 狹角 8°：點(diǎn)徑 φ7 mm@100 mm
• 標(biāo)準(zhǔn) 20°：點(diǎn)徑 φ18 mm@100 mm
• 廣角 40°：點(diǎn)徑 φ36 mm@100 mm
6. 自然風(fēng)冷，無風(fēng)扇
   鋁制一體外殼，連續(xù)點(diǎn)亮也可保持低溫，適合潔凈室。
7. 體積小，安裝靈活
   燈體 φ30 mm × 長 70 mm，尾部 M8 4 芯快插，可直接鎖在相機(jī)支架或機(jī)器人手臂上。

典型應(yīng)用

• 高速產(chǎn)線：瓶蓋、瓶口缺陷“閃光拍照"
• 機(jī)器人引導(dǎo)：激光焊點(diǎn)外觀檢查（配合 5 μS 閃光）
• 電子行業(yè)：IC 引腳翹起檢測（狹角 8° 透鏡）
• 食品/藥品：鋁箔封口異物檢查（藍(lán)光 470 nm 增強(qiáng)對(duì)比）