日本jeol實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式自動(dòng)掃描電子顯微鏡
日本jeol實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式自動(dòng)掃描電子顯微鏡
新開(kāi)發(fā)的樣品臺(tái)實(shí)現(xiàn)5軸全電機(jī)驅(qū)動(dòng)，使用更加安心且快速。
此外，新搭載的"Simple SEM"功能，只需選擇視野即可自動(dòng)獲取觀察和分析數(shù)據(jù)。JSM-IT210是緊湊型、可實(shí)現(xiàn)無(wú)人操作的新一代SEM。
主要特點(diǎn)
1. 樣品交換導(dǎo)航功能 - "放入樣品，無(wú)需猶豫即可觀察"
三步操作流程：
按照樣品交換導(dǎo)航插入樣品
利用真空排氣時(shí)間進(jìn)行觀察準(zhǔn)備
自動(dòng)開(kāi)始觀察
Zeromag功能 - "光學(xué)圖像放大即為SEM圖像"
Zeromag是樣品臺(tái)圖形、光學(xué)圖像與SEM圖像聯(lián)動(dòng)的功能。
在樣品臺(tái)上設(shè)置多個(gè)樣品或觀察特定部位時(shí)，尋找視野變得更加容易。
*需要樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（可選）進(jìn)行光學(xué)圖像拍攝
3. Live Analysis功能 - "觀察中隨時(shí)進(jìn)行元素分析"
Live Analysis是持續(xù)顯示特征X射線光譜和元素圖的功能。
在觀察的同時(shí)可以尋找目標(biāo)元素。
*適用于A（分析）/LA（低真空&分析）型號(hào)
4. Simple SEM功能 - "多樣化的自動(dòng)測(cè)量"
Simple SEM是只需設(shè)置想要觀察的視野，即可輕松進(jìn)行自動(dòng)拍攝的功能。
自動(dòng)測(cè)量支持功能：
5. 大口徑EDS系統(tǒng) - "分析更快速"
標(biāo)配60 mm2大口徑EDS（適用于A/LA型號(hào)）
性能優(yōu)勢(shì)：
分析速度快：短時(shí)間內(nèi)可獲得與傳統(tǒng)EDS同等質(zhì)量的光譜，多點(diǎn)分析更高效
熱敏感樣品安心：傳統(tǒng)EDS需要大電流，可能造成熱損傷；60 mm2 EDS可在降低電流下進(jìn)行元素分析，抑制熱損傷
短時(shí)間清晰元素圖：即使測(cè)量時(shí)間僅1分鐘，也能獲得清晰的元素圖
實(shí)測(cè)案例：
樣品：石鐵隕石
加速電壓：15 kV
測(cè)量時(shí)間：1分鐘
結(jié)果：元素圖清晰可辨
技術(shù)亮點(diǎn)
緊湊型設(shè)計(jì)
JEOL緊湊型臺(tái)式SEM
節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間
適合各種工作環(huán)境
5軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)
智能化操作
導(dǎo)航式操作流程
自動(dòng)功能減少人為誤差
適合新手和經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶
集成分析功能
觀察與分析一體化
實(shí)時(shí)元素分析
提高工作效率
應(yīng)用領(lǐng)域
材料科學(xué)：金屬、陶瓷、復(fù)合材料表面形貌觀察
生命科學(xué)：生物樣品、細(xì)胞結(jié)構(gòu)觀察
半導(dǎo)體工業(yè)：芯片、器件表面缺陷檢測(cè)
納米技術(shù)：納米材料形貌表征
失效分析：產(chǎn)品表面缺陷和污染分析
地質(zhì)礦物：巖石、礦物樣品成分分析
質(zhì)量控制：工業(yè)產(chǎn)品表面質(zhì)量檢測(cè)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
操作簡(jiǎn)便：導(dǎo)航式操作，降低學(xué)習(xí)成本
緊湊設(shè)計(jì)：節(jié)省空間，適合各種實(shí)驗(yàn)室環(huán)境
自動(dòng)化程度高：支持無(wú)人值守操作
分析集成：觀察與元素分析同步進(jìn)行
高精度樣品臺(tái)：5軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)，定位精準(zhǔn)
大口徑EDS：標(biāo)配60 mm2 EDS，分析更高效
多視野測(cè)量：自動(dòng)連續(xù)測(cè)量多個(gè)區(qū)域
圖像聯(lián)動(dòng)：光學(xué)圖像與SEM圖像無(wú)縫切換
產(chǎn)品型號(hào)：JSM-IT210
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